X射线荧光法
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X射线荧光法 |
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X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 |
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适用范围 |
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镀层 |
底材 |
测定范围 |
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Zn |
Fe |
0.02-45μm |
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Ni |
Fe |
0.02-30μm |
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Cu |
Fe |
0.02-30μm |
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Cr |
Fe |
0.02-20μm |
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Ni/Cu |
Fe |
Ni0.02-10μm |
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Ni/Cu |
Fe |
Cu0.1-20μm |
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检测参数 |
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镀层厚度 |
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可试验样品 |
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镀锌板材、电镀锌紧固件、铁基镀镍试样、铁基镀铜、铁基镀铬、铁基镀镉等 |
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认可的方法标准 |
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ISO 3497、ASTM B568 |
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